一、結(jié)構(gòu)與設計特點

1. 光學系統(tǒng)

• 采用變檔式物鏡設計，可選配 1X/2X、1X/3X 或 2X/4X 組合，支持 5X-120X 連續(xù)變倍

• 目鏡配置廣視場（WF）型號，如 WF10X/20mm、WF15X/13mm，提供大視場范圍和高清晰度

• 支持正像立體觀察，景深大，適合三維物體成像

  機械結(jié)構(gòu)

• P型：無內(nèi)置光源，需外接照明；

• L型：配備入射光源；

• 2L型：集成入射和透射光源，支持暗場聚光鏡，適用于珠寶、半導體檢測

• 觀察頭：45°傾斜雙目設計，瞳距調(diào)節(jié)范圍 55-75mm，屈光度調(diào)節(jié) ±5mm，適合長時間操作

• 機架類型：提供 立柱式（穩(wěn)定性強）和 彎臂式（操作靈活）兩種選擇，適配不同場景需求

• 底座光源：分三種型號：

2. 照明系統(tǒng)

• 標配 12V/10W 白熾燈或鹵素燈，部分型號可選LED光源，提供均勻照明

二、核心性能參數(shù)

三、ST30體視顯微鏡應用領域

1. 工業(yè)檢測

• 電子元件焊接質(zhì)量檢查（如PCB板、芯片）

• 材料表面缺陷分析（如金屬斷口、塑料結(jié)構(gòu)）

2. 生物醫(yī)學

• 解剖操作、組織樣本觀察

• 珠寶鑒定（需搭配暗場聚光鏡）

3. 科研與教學

• 生物學、地質(zhì)學等學科的三維標本教學演示

• 實驗室材料宏觀分析（如纖維、礦物）

四、選型與配置建議

1. 型號選擇

• 基礎需求：ST30-P（無光源，需外接照明）；

• 常規(guī)檢測：ST30-L（入射光源，適合普通實驗室）；

• 高精度需求：ST30-2L（雙光源+暗場聚光鏡，適用半導體、珠寶）

2. 擴展配件

• 廣視場目鏡（WF5X、WF20X）提升視場范圍

• 插入式物鏡（如6X/66mm）擴展倍率

• 數(shù)碼成像系統(tǒng)（通過接口連接相機或軟件）

五、優(yōu)勢總結(jié)

• 經(jīng)濟實用：相比其他顯微鏡，ST30以較低成本滿足教學和中小型企業(yè)需求

• 操作友好：變倍設計簡化流程，適合非專業(yè)人員使用

• 模塊化設計：支持靈活升級光源、物鏡等組件

更多技術細節(jié)和價格信息可參考相關產(chǎn)品頁面

ST30體視顯微鏡